广东HCT测试系统原理

PCB板的检测是时候要注意一些细节方面，以便更准备的保证产品质量，在检测PCB板的时候，我们应注意下面的小常识。PCB检测常识1、严禁在无隔离变压器的情况下，用已接地的测试设备去接触底板带电的电视、音响、录像等设备来检测PCB板严禁用外壳已接地的仪器设备直接测试无电源隔离变压器的电视、音响、录像等设备。虽然一般的收录机都具有电源变压器，当接触到较特殊的尤其是输出功率较大或对采用的电源性质不太了解的电视或音响设备时，首先要弄清该机底盘是否带电，否则极易与底板带电的电视、音响等设备造成电源短路，波及集成电路，造成故障的进一步扩大。2、检测PCB板要注意电烙铁的绝缘性能不允许带电使用烙铁焊接，要确认烙铁不带电，比较好把烙铁的外壳接地，对MOS电路更应小心，能采用6~8V的低压电路铁就更安全。 上海柏毅试验设备有限公司专业提供各类测试系统，可以随时来电咨询我司！广东HCT测试系统原理

电路板从开始设计到完成成品，要经过很多过程，元器件选型、原理图设计、PCB设计、PCB打样制作、调试测试、性能测试、温升测试等，经过一系列过程，较终要得出一个性能可靠、能够持续工作的电路板，电路板温升不能太高，太高则对元器件寿命有影响、对电路板表现的性能有影响。电路板工作各个元器件都处于不同的工作状态，在工作的时候就会产生了热量，机体内部温升上升，因此元器件功耗是引起温升的直接起源，除了元器件当然还有环境温度，因此降低电路板内部温度成为每个工程师设计时候必要考虑到的问题之一，那么电路板的温升问题如何解决呢？下面介绍几种方法1.电路板布局走线设计合理化这是较重要注意的地方之一，电路板有很多元器件，每个元器件对于温度耐温不一样，比如有些IC工作温度达到105°，继电器工作温度85°等、消耗功率发热程度不一样、高低也不一样。 广东HCT测试系统原理上海柏毅试验设备有限公司可以提供各种测试系统，有需要请致电我司！

电子产品高低温循环测试电子产品或元器件的互联可靠性中较重要的是各回路的互联电阻。互联可靠性一般通过高低温循环进行测试，高低温循环测试是将测试样品交替置于高温和低温环境一定的时间，如高低温冲击箱，热油试验箱等。并检测测试样品的各种电性能的变化情况。从而得到产品的可靠性和寿命等有关数据，电子产品或元器件的高低温循环测试中的互联电阻测试方法离线测试。一般是在试验箱外对待测试产品进行各项电性能测试后，再放入高低温循环测试试验箱，经过一定时间的高低温循环测试后，将待测试样品取出，再次进行各项电性能测试，如此循环重复多次，直到设定的测试循环数完成或待测试样品失效。由于离线测试需要中途停止高低温循环并将待测试产品取出试验箱后进行测试，一方面无法进行高频率的测试，一般只能几十或上百循环才能进行一次测试，另一方面，测试中产品如果发生失效，只能在下一次测试时才能发现，并且无法得到产品发生失效的具体循环数，这样对于一些产品质量相差不大的产品或批次无法进行甄别。

HCT耐电流电阻测试机系统简介HighDensityInterconnections--高密度互联技术HDIHDI板是指通过高密度微细布线和微小导通孔技术来生产制作的线路板，是PCB行业在20世纪末发展起来的一门较新的技术，与传统PCB相比采用激光钻孔技术（又称镭射板），钻孔更小，线路更窄，焊盘大幅度减小，所有单位面积内可以得到更多的线路分布，高密度互连由此而来，HDI技术的出现，适应幵推进了PCB行业的发展，同时对PCB板的制作和测试要求更高。二、HCT耐电流电阻测试机系统测试目的：耐电流测试是在特殊设计的孔链上施加一定的直流电流，并持续一段时间，电流在孔链上产生焦耳热，热量传递到孔链附近基材上，基材受热膨胀产生Z方向膨胀应力导致盲孔断裂，从而检测出孔链的互联可靠性能。 上海柏毅试验设备有限公司可以为您提供各种测试系统，详情请致电咨询！

离子迁移(CAF)测试是评价电子产品或元件的绝缘可靠性的一种测试方法，将样品置于高温高湿度的环境中，并在相邻的两个绝缘网络之间施加一定的直流电压（偏置电压），在长时间的测试条件下，检测两个网络之间是否有绝缘失效。实践证明，将PCB放置于高温高湿的环境试验箱中，并在线路板上焊接电缆线，施加偏置电压，然后每隔一段时间，将PCB从环境试验箱中取出，进行绝缘电阻测试，这种间断式的测试方法，会漏过很多实际发生的离子迁移。一方面因为将PCB从环境试验箱中取出，PCB会变得干燥，从而导致绝缘电阻的上升，另一方面，当PCB在高温高湿的环境试验箱中承受偏置电压时，离子迁移可能随时发生。上海柏毅试验设备有限公司欢迎您的咨询，我们将竭诚为您服务！ 各种测试系统，就选上海柏毅试验设备有限公司，用户信赖之选，想了解详细情况，请来电！广东HCT测试系统原理

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PCB的绝缘性劣化，突出表现在电极之间产生离子迁移现象。当对PCB工作下施加的电压增高时，它的绝缘性就会有很快的下降。而离子迁移的间隙，就是导体间的绝缘体中的树脂内微细空隙、玻璃纤维布和树脂的粘接界面、铜箔与树脂的粘接界面、树脂中的填充材料的粘接界面、绝缘体受到热冲击后产生的微细裂缝等。层间剥离界面剥离、处理液等的不纯物的浸入、绝缘体内含有不纯物、绝缘材料的劣化等，都易于诱发离子迁移现象在PCB上发生。在玻纤布的纤维与树脂之间产生的离子迁移现象，称作CAF(ConductiveAnodicF1iament)现象。将PCB放置于高温高湿的环境试验箱中，并在线路板上焊接电缆线，施加偏置电压，然后每隔一段时间，将PCB从环境试验箱中取出，进行绝缘电阻测试，这种间断式的测试方法，会漏过很多实际发生的离子迁移。一方面因为将PCB从环境试验箱中取出，PCB会变得干燥，从而导致绝缘电阻的上升，另一方面，当PCB在高温高湿的环境试验箱中承受偏置电压时，离子迁移可能随时发生。有效的PCB离子迁移测试，需要将PCB放置于高温高湿的环境试验箱中，并在线路板上焊接电缆线，引出至环境试验箱外的有关测试设备上。 广东HCT测试系统原理

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